NFCフォーラム、EMVCo、ISO14443、UICC/CLF/SWP等スマートカードテスト無料セミナー

GoogleがNFCを採用するなどNFCの技術を搭載したスマートフォンの需要が急速に高まっております。

このトレンドをいち早く察知した弊社ではNFC搭載スマートフォンの接触、非接触部分の両方を通信解析できるテストツールに特に力を入れてきました。

そこで、NFCの技術を支えておられる皆様方が開発、メンテナンス業務をされる際により速く、正確にテストを実施可能なツールをこのたび用意させていただきました。

この度、これらのツールを皆様の開発及びメンテナンスでお役に立てて頂きたく、弊社のテストツールに関するセミナーを企画しました。

当セミナーではこれらのテストツールでご紹介させて頂くと共に実際にデモンストレーションを実施いたしますので製品の機能を実際にご覧頂けます。

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　○●　セミナー内容情報　●○

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１、Keolabsが出すテストツールのプレゼンテーション
・　スマートカードISO17025認証テストハウス「Soliatis LAB」がだすテストツール概要
・　接触型及び非接触型のスマートカードのプロトコルアナライザツールの紹介
・　NFCFORUM, ISO10373-6, ISO10373-7, EMVCo等で必要な器具の紹介
・　ISO14443, Felica, ISO15693, NFCIP1,　NFCIP2,　NFC Forum, ICAO, SWP, 7816....
に関連するコンプライアンステストの紹介

２、NFCフォ-ンテストツールのデモンストレーション
接触部分(UICC、CLF)通信解析、コンプライアンステスト　　

３、NFCフォーンテストツールのデモンストレーション
非接触型部分(NFC　Forum)通信解析、コンプライアンステスト

４、質疑応答

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◆　会期　　　２０１２年６月７日（木）

　　　　　　　受付１３時～

開場１３時１５分～

閉場１６時３０分

◆　会場　　　Ｔ’ｓ渋谷フラッグ

　　　　　　　〒150-0042東京都渋谷区宇田川町33-6Shibuya Flag (渋谷駅から徒歩５分程）

セミナーへご出席をご希望の方は必要項目をご記入の上、下記アドレス宛てにご連絡ください。

◆　ご連絡項目　

　　・　会社名

　　・　部署

　　・　お名前

　　・　電話番号

　　・　ご興味のあるテスト

◆　申し込み先：

尚、お申し込みは会場設置の関係上５月３１日頃までにお願いいたします。

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ポジティブワン株式会社
Keolabs スマートカード・テストツール営業チーム
〒150-0043 東京都渋谷区道玄坂1-12-1
渋谷マークシティ・ウエスト22F
TEL FAX
http://www.positive-one.com